[发明专利]集成电路及制造方法有效
申请号: | 201310034040.3 | 申请日: | 2013-01-29 |
公开(公告)号: | CN103226040A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 尤里·波诺马廖夫;戴维·卡斯特罗;罗埃尔·达门 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01N27/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 公开了一种集成电路,包括:衬底(10),包括至少一个光传感器(12);衬底上方的互连结构(20);互连结构上的至少一个钝化层(30),所述钝化层包括所述至少一个光传感器上方的第一区域;以及气体传感器如湿气传感器(50),至少部分地位于所述至少一个钝化层的另一区域上,其中气体传感器包括处于第一电极(42)和第二电极(44)之间的气敏层(46’),气敏层还包括位于第一区域上的一部分(46”)。还公开了一种制造这种IC的方法。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路,包括:衬底(1O),包括至少一个光传感器(12);衬底上方的互连结构(20);互连结构上的至少一个钝化层(30),所述钝化层包括所述至少一个光传感器上方的第一区域;以及气体传感器(50),至少部分地位于所述至少一个钝化层的另一区域上,其中所述气体传感器包括处于第一电极(42)和第二电极(44)之间的气敏层(46’),所述气敏层还包括位于第一区域上的一部分(46”)。
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