[发明专利]一种基于缺陷检出率的相控阵超声检测扫查路径优化方法有效
| 申请号： | 201310032216.1 | 申请日： | 2013-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN103149277A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 胡平;张俊;马庆增;李晓红;肖凯;张益成 | 申请（专利权）人： | 广东电网公司电力科学研究院;武汉大学 |
| 主分类号： | G01N29/22 | 分类号： | G01N29/22 |
| 代理公司： | 广州知友专利商标代理有限公司 44104 | 代理人： | 周克佑 |
| 地址： | 510080 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种基于缺陷检出率的相控阵超声检测扫查路径优化方法，包括如下步骤：S1根据待检工件易出现缺陷的位置的分布特点，将待检工件划分成N个检测区块，使每个检测区块Fi（i∈N）自身的厚度近似不变；S2寻找超声扫查探头在各检测区块上的最佳扫查点；S3连接各检测区块上的最佳扫查点得到一条优化的扫查路径。本发明能够将常规方法中的二维扫查范围优化为一条扫查线，大大缩短了探头的行走路径，减少了进行数据采集和数据分析的工作量，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 缺陷 检出 相控阵 超声 检测 路径 优化 方法 | ||
【主权项】：
一种基于缺陷检出率的相控阵超声检测扫查路径优化方法，其特征在于，包括如下步骤：S1根据待检工件易出现缺陷的位置的分布特点，将待检工件划分成N个检测区块，使每个检测区块Fi（i∈N）自身的厚度近似不变；S2寻找超声扫查探头在各检测区块上的最佳扫查点；S3连接各检测区块上的最佳扫查点得到一条优化的扫查路径。
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