[发明专利]一种用于电缆绝缘材料树枝状老化缺陷的检测方法无效
申请号: | 201310023564.2 | 申请日: | 2013-01-22 |
公开(公告)号: | CN103115926A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 周远翔;张旭;刘睿;张云霄 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N21/91 | 分类号: | G01N21/91 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 罗文群 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于电缆绝缘材料树枝状老化缺陷的检测方法,属于电力设备绝缘诊断技术领域。将待检测的电缆绝缘材料制备成长方体形待检测样品,并设置半导电硅橡胶和针电极,对针电极的尖端施加高压;在待检测样品中形成缺陷通道,撤去对针电极施加的高压,并将半导电硅橡胶和针电极从待检测样品上去除;将具有荧光染色作用的液体沿待检测样品的缺陷通道注入待检测样品中;将样品切成薄片,用超分辨率荧光显微镜扫描,对得到的光学显微图像和荧光显微图像进行处理,得到待检测电缆绝缘材料的树枝状老化缺陷形貌图。本方法简单快捷,实验效率高,有利于从形态角度对电缆绝缘缺陷进行诊断,并且为电树枝状老化的理论研究提供关键图像依据。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 电缆 绝缘材料 树枝 老化 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种用于电缆绝缘材料树枝状老化缺陷的检测方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)将待检测的电缆绝缘材料制备成长方体待检测样品,长方体的长为40毫米,宽为30毫米,厚为5毫米,在待检测样品的宽度方向上的一侧设置半导电硅橡胶,在半导电硅橡胶上设置一个针电极,针电极埋入待检测样品中,待检测样品的宽度方向上的另一侧为地电极;(2)对针电极的尖端施加一个6‑12千伏高压,使地电极接地,4‑7分钟后,针电极的尖端产生树枝状老化缺陷,形成缺陷通道,撤去对针电极施加的高压,并将半导电硅橡胶和针电极从待检测样品上去除;(3)将荧光染色剂罗丹明溶于二甲基亚砜,制成罗丹明体积浓度为1毫克/毫升的母液,用二甲基亚砜对母液进行稀释,使罗丹明体积浓度为10微克/毫升,制成工作液;(4)将上述工作液沿待检测样品的缺陷通道注入待检测样品中;(5)将步骤(4)的待检测样品切成边长为5毫米的立方体,并使缺陷通道位于立方体的中心,沿垂直于缺陷通道的方向切取200微米厚的待检测样品薄片;(6)用超分辨率荧光显微镜,以1.5‑2微米为步长,沿待检测样品薄片的厚度方向对待检测样品薄片进行扫描,并记录缺陷通道的光学显微图像和荧光显微图像;(7)采用图像处理方法对上述光学显微图像和荧光显微图像进行还原和重建,得到待检测电缆绝缘材料的树枝状老化缺陷形貌图。
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