[发明专利]电子荷质比实验中光斑位移测量装置有效
| 申请号： | 201310017162.1 | 申请日： | 2013-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN103063147A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 高希宇;任远;杨北革;姚学武 | 申请（专利权）人： | 山西省电力公司大同供电分公司;国家电网公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 胡时冶;王宇杨 |
| 地址： | 037008*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子荷质比实验中光斑位移测量装置，包括二维位移测量仪、光强移动探测器、第一电机和显示器；所述二维位移测量仪的输出端与显示器连接；二维位移测量仪具有X轴部和Y轴部；第一电机控制X轴部在Y轴部的导轨上移动。本发明有效地提高了对电偏转灵敏度、磁偏转灵敏度、地磁水平分量等测量的精度。通过使用光强探测器对光斑扫描避免肉眼观察的误差，同时使用更高精度的二维位移测量仪，提高位移测量的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 实验 光斑 位移 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种电子荷质比实验中光斑位移测量装置，其特征在于：包括二维位移测量仪、光强移动探测器、第一电机和显示器；二维位移测量仪包括X轴部、Y轴部、X轴位移测量单元和Y轴位移测量单元；X轴位移测量单元位于光强移动探测器上；Y轴位移测量单元位于X轴部上；Y轴部包括沿Y轴方向的相互平行的两个齿条；X轴部包括一个沿X轴方向的齿条；光强移动探测器安装在X轴部上，能够在X轴方向上移动，X轴位移测量单元获得光强移动探测器在X轴方向上的位移量，即X值；X轴部能够在Y轴部上沿Y轴方向移动，Y轴位移测量单元获得在Y轴方向上的位移量，即Y值；第一电机安装在X轴部上，用来控制X轴部在Y轴部的导轨上移动；X轴位移测量单元和Y轴位移测量单元的输出端与显示器连接，从而将X值和Y值显示在该显示器上。
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