[发明专利]电子荷质比实验中光斑位移测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光斑位移测量的装置，具体涉及一种电子荷质比实验中光斑位移测量装置，属于物理实验仪器的设计与制造的技术领域。

背景技术

电子荷质比实验已广泛用于现代高等教学当中，其中在电偏转灵敏度、磁偏转灵敏度、地磁水平分量测量等对光斑位移的测量精度不是很高。基于其位移精确测量是无法实施的。而目前采用的方法仅仅为在荧光屏前放置刻度板凭人眼观测。首先，人眼观测本身就带有一定的不确定性，其次，刻度板的精确只能达到毫米整数级。

发明内容

本发明主要解决的是在电子荷质比实验中对光斑位移的微小测量。有效地提高了对电偏转灵敏度、磁偏转灵敏度、地磁水平分量等测量的精度。同时可选择手动测量和电子自动测量两种方法。具体地，本发明提供了一种电子荷质比实验中光斑位移测量装置，包括二维位移测量仪、光强移动探测器、第一电机和显示器；

二维位移测量仪包括X轴部、Y轴部、X轴位移测量单元和Y轴位移测量单元；X轴位移测量单元位于光强移动探测器上；Y轴位移测量单元位于X轴部上；Y轴部包括沿Y轴方向的相互平行的两个齿条；X轴部包括一个沿X轴方向的齿条；光强移动探测器安装在X轴部上，能够在X轴方向上移动，X轴位移测量单元获得光强移动探测器在X轴方向上的位移量，即X值；X轴部能够在Y轴部上沿Y轴方向移动，Y轴位移测量单元获得在Y轴方向上的位移量，即Y值；第一电机安装在X轴部上，用来控制X轴部在Y轴部的导轨上移动；

X轴位移测量单元和Y轴位移测量单元的输出端与显示器连接，从而将X值和Y值显示在该显示器上。

根据本发明的一种电子荷质比实验中光斑位移测量装置，安装在X轴部上的第一电机的输出轴与第一齿轮连接，第一齿轮与Y轴部的一个齿条配合，实现了X轴部在Y轴部的导轨上移动。

根据本发明的一种电子荷质比实验中光斑位移测量装置，所述光强移动探测器包括X轴指示标、Y轴指示标、光强传感器、第二电机和第二齿轮；第二电机的输出轴与第二齿轮连接，第二齿轮与X轴部上的齿条配合，实现光强移动探测器在X轴部上移动。

本发明的有益效果是：有效地提高了对电偏转灵敏度、磁偏转灵敏度、地磁水平分量等测量的精度。通过使用光强探测器对光斑扫描避免肉眼观察的误差，同时使用更高精度的二维位移测量仪，提高位移测量的精确度。

附图说明

图1本发明的电子荷质比实验中光斑位移测量装置的结构框图，

图2本发明的电子荷质比实验中光斑位移测量装置的的正视图，

图3本发明的光强移动探测器示意图，

图4本发明实施例的移动传动示意图，

图5本发明的电子荷质比实验中光斑位移测量装置的外观图；

图中各个附图标记解释：

1、示波管荧光屏；2、二维位移测量仪的Y轴部；3；二维位移测量仪的X轴部；4、X轴指示标；5、Y轴指示标；6、光强移动探测器；7、X轴零刻线；8、Y轴零刻线；9、X、Y轴置换挡；10、启动键；11、X轴归零键；12、Y轴归零键；13、X、Y轴位移显示屏；14、长直螺线管；15、二维位移测量仪；16、光强传感器；17、第二电机；18、第二齿轮。

具体实施方式