[发明专利]校准装置及多轴机械的补偿方法有效

专利信息
申请号: 201310006182.9 申请日: 2013-01-08
公开(公告)号: CN103846737A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 李汉州;王郁乔;胡斯闵;林洋鑫 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: B23Q17/00 分类号: B23Q17/00;B23Q17/22;B23Q17/24
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种校准装置及多轴机械的补偿方法,该校准装置包括一座体、多个激光感测器、一反射件、一基准点结构及一感光元件,激光感测器具有一出光端发射激光光束,多个激光光束相互平行,反射件包括一反射面,每一出光端与反射面距离相同,激光光束垂直投射于反射面,基准点结构具有一基准点,感光元件用以侦测基准点;将校准装置安装于一多轴机械的一端面,驱动激光感测器发出激光光束,以测量出光端至反射面的距离,该距离为一第一距离,纪录该第一距离,并将每一激光感测器的读值归零,以第一距离作为多轴机械补偿控制的依据。
搜索关键词: 校准 装置 机械 补偿 方法
【主权项】:
一种校准装置,包含:座体,其具有一第一面;多个激光感测器,设置于该座体,每一该激光感测器具有一出光端以发射一激光光束,该多个激光光束相互平行;反射件,可分离地设置于该座体,该反射件包括一具有反射特性的反射面,该反射面与该第一面之间具有一距离,每一该出光端与该反射面的距离相同,该多个激光光束垂直投射于该反射面;基准点结构,设置于该座体,该基准点结构具有一基准点;以及一感光元件,设置于该座体,该感光元件用以侦测该基准点。
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