[发明专利]利用多分量天线优化深电阻率测量的方法和装置在审
| 申请号： | 201280077326.3 | 申请日： | 2012-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN104813194A | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | H-H·吴;B·东德里奇;B·刚纳 | 申请（专利权）人： | 哈里伯顿能源服务公司 |
| 主分类号： | G01V3/28 | 分类号： | G01V3/28;G01V3/38;G01V11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 根据本公开的各方面，本文中描述了用于优化深电阻率测量的系统和方法。该方法可包括从被设置在钻孔中的井下工具获得一个或多个第一多分量测量。井下工具可包括多分量天线。可例如通过使用附加的井下工具或在计算上使用该一个或多个第一多分量测量来确定相对于形成层的井下工具的相对结构倾角Φ。可调节多分量天线中的至少一个的倾斜角，其中经调节的倾斜角是基于该倾角。该方法可进一步包括：获得与经调节的倾斜角相关联的一个或多个第二多分量测量；以及至少部分地基于该一个或多个第二多分量测量来确定形成层特性，而没有包括或考虑形成层各向异性效应。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 分量 天线 优化 电阻率 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于优化深电阻率测量的方法，包括：从被设置在钻孔中的井下工具获得一个或多个第一多分量测量，其中所述井下工具包括至少两个天线；确定所述井下工具的相对结构倾角Φ；相对于所述工具的轴调节所述天线中的至少一个的倾斜角，其中经调节的倾斜角是基于所述井下工具的所述相对结构倾角；获得与所述经调节的倾斜角相关联的一个或多个第二多分量测量；以及至少部分地基于所述一个或多个第二多分量测量来确定形成层特性而没有包括各向异性效应。
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