[发明专利]具有扩展的谱覆盖范围的全场GEO成像仪光学装置有效
| 申请号： | 201280070806.7 | 申请日： | 2012-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN104136955B | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | L·G·库克 | 申请（专利权）人： | 雷斯昂公司 |
| 主分类号： | G02B13/14 | 分类号： | G02B13/14;G02B27/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 罗银燕 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种宽视场红外光学成像系统，其谱覆盖范围扩展到1.0至2.5μm的波长范围中。在一个例子中，光学成像系统包含对至少1.0μm至5.0μm的波长范围中的光敏感的成像检测器、以及被光学耦合在一起且被配置为将入射光聚焦于成像检测器上的多个透镜，所述多个透镜中的每一个都包含对至少1.0μm至5.0μm的波长范围中的光透明的材料，其中，光学成像系统的光瞳位于所述多个透镜之外、在所述多个透镜与成像检测器之间。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 扩展 覆盖 范围 全场 geo 成像 光学 装置 | ||
【主权项】：
一种光学成像系统，包括：成像检测器，对1.0μm至5.0μm的波长范围中的光敏感，所述成像检测器包含对第一波带中的光敏感的第一区域和对第二波带中的光敏感的第二区域，所述第一波带包含从1.0μm至2.5μm的波长范围，并且所述第二波带包含短波长红外谱带和中波长红外谱带中的至少一个；多个透镜，被光学耦合在一起并且被配置为将入射光聚焦于成像检测器上，所述多个透镜中的每一个都包含对1.0μm至5.0μm的波长范围中的光透明的材料；以及分束器，位于所述多个透镜与成像检测器之间，并被配置为将入射光至少分成所述第一波带和所述第二波带，以及将所述第一波带引导至成像检测器的所述第一区域并将所述第二波带引导至成像检测器的所述第二区域，其中，光学成像系统的光瞳位于所述多个透镜之外、在所述多个透镜与成像检测器之间；以及其中，所述成像检测器是二维焦平面阵列。
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