[发明专利]远距离毫米波表面成像雷达系统在审
申请号: | 201280070331.1 | 申请日: | 2012-12-20 |
公开(公告)号: | CN104303073A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | V·考林科;J·A·劳伯格;C·瑟斯顿;G·毕晓普 | 申请(专利权)人: | 雀莱斯企业股份有限公司 |
主分类号: | G01S13/06 | 分类号: | G01S13/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 宋静娴 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于检测跑道、滑行道、及其他感兴趣的区域的表面上的异物碎片的远距离毫米波成像雷达系统。该系统包括适用于产生在几千兆赫的频率范围内扫描的毫米波辐射的电子器件。通过频率扫描天线来广播扫描毫米波辐射,从而产生第一扫描方向(诸如垂直方向)的窄的扫描发射波束,定义对应于扫描毫米波频率范围的窄、近似一维的、电子扫描视场。天线在垂直于第一扫描方向的第二扫描方向被机械地旋转或扫描,从而确定二维视场。计算机处理器设备产生视场的至少所期望部分的雷达图像。 | ||
搜索关键词: | 远距离 毫米波 表面 成像 雷达 系统 | ||
【主权项】:
一种用于对位于近似平面的表面的区域上的对象进行成像的远距离毫米波成像雷达系统,且所述系统包括:A)频率扫描毫米波表面成像雷达系统,包括:1)产生电子器件,适用于产生在几千兆赫的频率范围内扫描的毫米波辐射,2)频率扫描天线系统,适用于:a)以第一扫描方向以窄扫描发射波束发射由所述电子器件产生的毫米波辐射,定义对应于所述扫描毫米波频率范围的窄的近似一维的电子扫描视场,以及b)在垂直于所述第一扫描方向的第二方向被机械地旋转或扫描,以便定义表面区域的二维视场,3)检测电子器件,适用于检测通过所述频率扫描天线系统发射的、从所述二维视场中的对象反射、并由所述频率扫描天线系统收集到的毫米波辐射,以及4)计算机处理器设备,适用于基于从所述对象反射并由所述接收天线收集的毫米波辐射,来确定位于所述表面区域上的对象的位置。
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