[发明专利]生成用于从存储介质读取数据的软信息值的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201280066282.4 申请日: 2012-10-10
公开(公告)号: CN104040504B 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: Y.Y.泰;Y.Y.马 申请(专利权)人: 桑迪士克科技有限责任公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C16/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 张晓明
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式包括适于在存储器系统中使用的系统、方法和/或装置,所述系统、方法和/或装置可提高用于改进存储和读取数据的可靠性的错误校正编码的性能。一些实施方式包括能够生成并利用用于对从存储介质读取的错误控制编码数据进行解码的软信息的系统、方法和/或装置。更具体地,一些实施方式利用包括用于可从存储介质读取的位元组的软信息值的特征向量的集合,所述特征向量的集合对应于各种组合的存储介质特征参数值。一些实施方式能够确定并利用与一个或多个存储介质特征参数值相关联的读取比较信号值。并且一些实施方式能够确定并利用与一个或多个存储介质特征参数值和经识别的错误条件相关联的已移位的读取比较信号值。
搜索关键词: 用于 存储器 系统 信息 生成
【主权项】:
一种生成用于从存储介质进行数据读取的软信息值的方法,所述方法包括:接收读取数据请求,其中所述读取数据请求包括对所请求的数据位于所述存储介质中何处的指示;通过如下内容来响应于所述读取数据请求:取回多个不同特征向量中的特征向量,所述多个不同特征向量中的每个特征向量均包括一组软信息值,其中所取回的特征向量基于用于所述存储介质的一组一个或更多个存储介质特征参数值,所述用于所述存储介质的一组一个或更多个存储介质特征参数值包括正被访问的所述存储介质的位置的之前编程/擦除周期的数量的指示符;生成与所取回的特征向量和从所述存储介质的一部分读取的第一多个数据值对应的第一多个软信息值;生成与所取回的特征向量和从所述存储介质的同一部分读取的第二多个数据值对应的第二多个软信息值;以及获取错误指示符,所述错误指示符指示所述第一多个软信息值代表包括有至少一个无法校正的错误的数据,并且其中,响应于接收所述错误指示符而生成所述第二多个软信息值。
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