[发明专利]倒置的无衬底芯片上的光学器件有效

专利信息
申请号: 201280059786.3 申请日: 2012-11-26
公开(公告)号: CN103975262B 公开(公告)日: 2018-01-23
发明(设计)人: I·舒彬;J·E·坎宁安;A·V·克里什纳莫西 申请(专利权)人: 甲骨文国际公司
主分类号: G02B6/12 分类号: G02B6/12;G02F1/00;G02B6/293
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 边海梅
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种混合集成模块(100)包括面对面地机械耦合到其中衬底已被除去的集成器件(116)的半导体裸片(110)。例如,集成电路可以包括传送光信号的光波导(136),该光波导在其中背侧的硅衬底或分选机(handler)已被完全除去的绝缘体上硅(SOI)晶片上制造。而且,光学器件(134)可以位于集成器件中氧化物层(126)(诸如掩埋的氧化物层)的底表面(130)上,并且集成器件(116)中的几何形状和材料可以选择和/或被限定成使得光信号渐逝地耦合在光波导(136)和光学器件(134)之间。
搜索关键词: 倒置 衬底 芯片 光学 器件
【主权项】:
一种混合集成模块,包括:具有顶表面的半导体裸片;机械耦合到所述半导体裸片的顶表面的粘合剂;及集成器件,其中该集成器件包括:具有顶表面、底表面和厚度的半导体层,其中所述半导体层的顶表面机械地耦合到所述粘合剂,并且其中所述半导体层包括配置为传送光信号的光波导;具有顶表面、底表面和厚度的氧化物层,其中所述氧化物层的顶表面位于所述半导体层的底表面上;及位于所述氧化物层的底表面上的光学器件,其中所述半导体层的厚度和所述氧化物层的厚度被限定成使得所述光信号渐逝地耦合在所述光波导和光学器件之间;其中所述半导体层和氧化物层包括绝缘体上硅技术,其中所述氧化物层顶上的第二半导体裸片已经被除去。
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