[发明专利]光子计数探测器有效
申请号: | 201280051041.2 | 申请日: | 2012-10-12 |
公开(公告)号: | CN103890610B | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | R·斯特德曼布克;R·P·卢赫塔;C·赫尔曼 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;G01T7/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 刘瑜,王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种成像系统(300)包括具有直接转换探测器像素的探测器阵列(314),其探测穿越所述成像系统的检查区域的辐射,并生成指示所探测到的辐射的信号;脉冲成形器(316),其被配置为或者对由所述探测器阵列生成的指示所探测到的辐射的信号进行处理,或者对具有对应于不同的已知能量水平的不同的已知高度的一组测试脉冲进行处理,并被配置为生成具有指示经处理的所探测到的辐射的能量或者经处理的一组测试脉冲的能量的高度的输出脉冲;以及阈值调整器(330),其被配置为结合所述一组测试脉冲的高度以及一组预定的固定阈值,分析对应于所述一组测试脉冲的所述输出脉冲的高度,并被配置为基于所述分析的结果,生成指示基线的阈值调整信号。 | ||
搜索关键词: | 光子 计数 探测器 | ||
【主权项】:
一种成像系统(300),包括:辐射源(310),其被配置为发射穿越检查区域的辐射;辐射源控制器(312),其被配置为将所述辐射源至少转变至这样的状态:在该状态中,在扫描期间,在所述扫描的积分时段的第二子部分上中断穿越所述检查区域的辐射发射;探测器阵列(314),其包括多个直接转换探测器像素,所述探测器阵列探测穿越所述成像系统的检查区域的辐射,并生成指示所探测到的辐射的信号;脉冲成形器(316),其被配置为对由所述探测器阵列在第一子部分上生成的指示所探测到的辐射的信号进行处理,并且对具有对应于不同的已知能量水平的不同的已知高度的一组测试脉冲进行处理,所述一组测试脉冲在所述扫描的所述积分时段的所述第二子部分上被注入,并被配置为生成具有指示经处理的所探测到的辐射的能量或者经处理的一组测试脉冲的能量的高度的输出脉冲;阈值调整器(330),其被配置为结合所述一组测试脉冲的高度以及一组预定的固定能量阈值分析对应于所述一组测试脉冲的所述输出脉冲的高度,并被配置为基于所述分析的结果,生成指示基线漂移的阈值调整信号。
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