[发明专利]测量装置在审
| 申请号： | 201280046364.2 | 申请日： | 2012-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN103857992A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 谢尔盖·洛帕京;拉尔夫·莱辛格;拉尔夫·赖梅尔特;彼得·克勒费尔 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
| 主分类号： | G01D11/24 | 分类号： | G01D11/24;G01F23/284 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 关兆辉;谢丽娜 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明描述了一种具有至少一个抗腐蚀的、面向过程的表面的测量装置，其中，在由导电材料组成的部件(1)和由电绝缘材料组成的部件(2)之间的至少一个接合部由密封件(3)密封，以及其中，该面向过程的表面以下面的方式设有涂层(4)，使得至少密封件(3)、在导电部件(1)和密封件(3)之间的过渡区域以及在绝缘部件(2)和密封件(3)之间的过渡区域被涂层(4)覆盖。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种测量装置，所述测量装置具有至少一个抗腐蚀的、面向过程的表面，其中，在导电材料的部件(1)和电绝缘材料的部件(2)之间的至少一个接合部由密封件(3)密封，以及其中，所述面向过程的表面以下面的方式设有涂层(4)：使得至少所述密封件(3)、在所述导电部件(1)和所述密封件(3)之间的过渡区域、以及在所述绝缘部件(2)和所述密封部件(3)之间的过渡区域被所述涂层(4)覆盖。
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