[发明专利]场效应晶体管装置、用于感测变形的设备和方法有效

专利信息
申请号: 201280045569.9 申请日: 2012-07-24
公开(公告)号: CN103814445A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: J·基维奥亚;R·怀特 申请(专利权)人: 诺基亚公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;G01L1/00;B82Y15/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 酆迅;张臻贤
地址: 芬兰*** 国省代码: 芬兰;FI
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摘要: 一种装置,包括:第一层(201),被配置用于实现从源极电极(203)向漏极电极(204)的电荷载流子流动;第二层(206),被配置用于使用在第一层(201)和第二层(206)之间形成的电场来控制在第一层(201)中的电荷载流子的密度;以及第三层(211),定位于第一层(201)和第二层(206)之间,以将第一层(201)从电场屏蔽,其中第三层(211)包括导电纳米颗粒(212)层并且被配置为使得当应力被施加于第三层(211)时,第一层(201)所经历的电场的强度被改变,导致电荷载流子密度的变化和第一层(201)的电导的相应变化。
搜索关键词: 场效应 晶体管 装置 用于 变形 设备 方法
【主权项】:
一种装置,包括:第一层,被配置用于实现从源极电极向漏极电极的电荷载流子流动;第二层,被配置用于使用在所述第一层和所述第二层之间形成的电场来控制在所述第一层中的电荷载流子的密度;以及第三层,定位于所述第一层和所述第二层之间,以将所述第一层从所述电场屏蔽,其中所述第三层包括导电纳米颗粒层并且被配置为使得当应力被施加于所述第三层时,所述第一层所经历的所述电场的强度被改变,从而导致所述电荷载流子密度的变化和所述第一层的电导的对应变化。
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