[发明专利]光谱分析设备、细颗粒测量设备以及用于光谱分析或光谱图显示的方法和程序在审
| 申请号： | 201280043375.5 | 申请日： | 2012-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN103797356A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 新田尚 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光谱分析设备，包括处理单元，被配置为使用分析函数生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱分析 设备 颗粒 测量 以及 用于 光谱 显示 方法 程序 | ||
【主权项】：
一种光谱分析设备，包括：处理单元，被配置为使用分析函数来生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同的检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。
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