[发明专利]检查集成电路布图中基准图案的实例的方法、系统和计算机程序产品

摘要

提供了检查集成电路布图中基准图案的实例的方法100、计算机程序产品和系统。方法100包含如下步骤：i）接收102所述集成电路布图；ii）从用户接收104所述基准图案的绘图；iii）从所述基准图案的绘图推导106出基础图案定义；iv）基于所述基准图案的绘图确定108一组拓扑关系；v）形成110复杂图案描述，所述复杂图案描述是所推导出的基础图案定义和所述一组拓扑关系的组合；vi）检查112所述集成电路布图中与所述复杂图案描述匹配的图案，以在所述集成电路布图中找到所述基准图案的实例；以及vii）存储114所找到的所述基准图案的实例。

主权项

一种检查集成电路布图（300）中基准图案（402，1002）的实例的方法（100，200），所述集成电路布图（300）代表集成电路器件的设计，所述基准图案（402，1002）是一个或多个集成电路布图（300）元素的拓扑，所述方法（100，200）包含如下步骤：‑接收（102）所述集成电路布图，‑从用户接收（104）所述基准图案（402，1002）的绘图，‑从所绘制的基准图案（402，1002）推导（106）出基础图案定义，所述基础图案定义包含一个或多个相继边（e1…e12）的一个或多个序列，所述边对应于所绘制的基准图案（402，1002）中的线，所述基础图案定义还包含角，所述角对应于所述绘图中的所述线的极点，一个角是序列的第一边（e1）的第一点、是序列的最后一边（e12）的最后一点、或者是两个相继边（e1…e12）的公共点，‑基于所绘制的基准图案（402，1002）确定（108）一组拓扑关系（504，514，524，806，1008），所述拓扑关系（504，514，524，806，1008）被限定在所述基础图案定义的成对的两条边（e1…e12）之间、所述基础图案定义的成对的两个角之间和/或所述基础图案定义的成对的一条边（e1，…，e12）与一个角之间，所述拓扑关系（504，514，524，806，1008）限定了所述成对的角和/或边（e1…e12）之间的特定拓扑，‑形成（110）复杂图案描述，所述复杂图案描述是所推导出的基础图案定义和所述一组拓扑关系（504，514，524，806，1008）的组合，‑检查（112）所述集成电路布图（300）中与所述复杂图案描述匹配的图案，以在所述集成电路布图中找到所述基准图案（402，1002）的实例，‑存储（114）所找到的所述基准图案（402，1002）的实例。