[发明专利]相位对比度成像设备有效
申请号: | 201280033300.9 | 申请日: | 2012-06-27 |
公开(公告)号: | CN103648388B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | E·弗雷登贝里;M·奥斯伦德 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01N23/20 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 李光颖,王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种X射线成像系统包括X射线源;X射线探测器,其包括被布置在所述X射线探测器的第一方向上的多个探测器带,每个探测器带还包括被布置在所述X射线探测器的第二方向上的多个探测器像素;相位光栅;多个分析器光栅,其包括光栅狭缝;相位光栅,并且多个分析器光栅包括光栅狭缝,其中,所述X射线源和所述X射线探测器适于在所述第一方向上执行关于对象的扫描运动,以扫描所述对象,其中,分析器光栅被布置在X射线源与X射线探测器之间,其中,所述多个分析器光栅(162)中的每个被布置为与具有被布置在所述第二方向上的所述光栅狭缝的相应探测器带相关联,并且其中,所述探测器带的所述分析器光栅的所述光栅狭缝在所述第二方向上相对彼此被移位。 | ||
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【主权项】:
一种X射线成像系统(101)包括:扫描臂(103),其被配置为关于成像区域移动;X射线源(104),其被安装到所述扫描臂;X射线探测器(105),其被安装到所述扫描臂、从所述X射线源关于所述成像区域相对,所述X射线探测器包括被布置在所述X射线探测器(105)的第一方向上的多个探测器带(105a),每个探测器带(105a)还包括被布置在所述X射线探测器(105)的第二方向上的多个探测器(105)像素(105p),其中,所述第二方向垂直于所述第一方向;相位光栅(161),其被设置在所述X射线源与所述X射线探测器之间;多个分析器光栅(162),其包括光栅狭缝,所述分析器光栅被安装在所述成像区域与所述X射线探测器之间并被配置为随所述X射线探测器一起移动;以及;控制器,其被配置为将所述扫描臂以及所述X射线源(104)和所述X射线探测器(105)在所述第一方向上移动,以扫描所述成像区域中的对象(108);其中,所述多个分析器光栅(162)中的每个被布置为与具有被布置在所述第二方向上的所述光栅狭缝的所述探测器带(105a)中的相应探测器带相关联;并且其中,每个分析器光栅(162)的所述光栅狭缝在所述第二方向上相对其他分析器光栅的所述光栅狭缝被偏移。
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