[发明专利]具有光学不均匀性的测定的评估方法及装置有效
| 申请号： | 201280031638.0 | 申请日： | 2012-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN103620392B | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | T·H·埃弗斯;D·J·W·克隆德;J·H·尼乌文赫伊斯;J·B·A·D·范佐恩 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/94 | 分类号： | G01N21/94;G01N21/55;G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 刘瑜,王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于评估利用样本的测定的方法和传感器设备（100）。在测定期间，在感测表面（112）处进行光学测量，并且生成所述感测表面（112）的至少一幅“均匀性图像”。从这幅图像，为至少一个感兴趣区域确定“均匀性指标”，之后根据所述指标评估所述光学测量。所述均匀性指标例如可以是二元值，其指示是否检测到不均匀性。如果检测到不均匀性，可以拒绝所有光学测量，可以仅拒绝针对所涉及的感兴趣区域的测量，或可以拒绝针对所涉及的感兴趣区域（ROI）的选定子区域的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 评估 具有 光学 不均匀 测定 | ||
【主权项】：
一种用于评估利用样本执行的测定的方法，所述方法包括如下步骤：a)在感测表面(112)处进行光学测量，这包括生成所述感测表面(112)的被称为“均匀性图像”的至少一幅图像；b)确定所述均匀性图像的至少一个感兴趣区域(ROI)之内的图像均匀性的指标，其中，所述图像均匀性是指图像值在所述感兴趣区域(ROI)内的展开；c)根据所述均匀性指标评估所述光学测量，其中，如果至少一个感兴趣区域(ROI)的所述均匀性指标偏离给定目标范围，则所述光学测量：‑完全被拒绝，‑相对于各自感兴趣区域(ROI)被拒绝，或‑相对于各自感兴趣区域(ROI)的子区域被拒绝。
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