[发明专利]使用TOF‑MSMS数据的可变XIC宽度确定SRM分析中的背景干扰

摘要

本发明涉及识别不包括干扰的产物离子的系统及方法。从串联质谱仪接收样本中的分析物的质量范围的全产物离子光谱。使用第一XIC窗口宽度计算所述全产物离子光谱中的产物离子的第一组一个或一个以上峰值参数。使用第二XIC窗口宽度计算所述产物离子的第二组一个或一个以上峰值参数。如果所述第一组一个或一个以上峰值参数与所述第二组一个或一个以上峰值参数实质上相同，那么将所述产物离子识别为不包括干扰。通过使所述产物与所述分析物的前驱物离子相关来进一步确认或确定所述产物离子来自所述分析物而不是来自所述样本的基质。

主权项

一种用于识别不包括干扰的产物离子的系统，其包含：串联质谱仪，其使用一个或更多个前驱物扫描来分析第一样本；及处理器，其与所述串联质谱仪通信，所述处理器从所述串联质谱仪接收所述第一样本中的分析物的质量范围的第一全产物离子光谱，使用第一所提取离子色谱窗口宽度计算所述第一全产物离子光谱中的产物离子的第一组一个或更多个峰值参数，使用第二所提取离子色谱窗口宽度计算所述第一全产物离子光谱中的所述产物离子的第二组一个或更多个峰值参数，及如果所述第一组一个或更多个峰值参数与所述第二组一个或更多个峰值参数实质上相同，那么将所述产物离子识别为不包括干扰。