[发明专利]形成包括I2-II-IV-VI4和I2-(II,IV)-IV-VI4半导体膜在内的半导体膜的方法以及包括所述半导体膜的电子装置有效

专利信息
申请号: 201280015103.4 申请日: 2012-02-17
公开(公告)号: CN103650155B 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: 休·希尔豪斯;纪佑锡 申请(专利权)人: 华盛顿大学商业中心
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/18
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王璐
地址: 美国华*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的实施例概括来说包括使用于液体溶剂中包括元素I、II、IV和VI的来源的溶液形成具有标称I2‑II‑IV‑VI4化学计量比的半导体膜(例如CZTS或CZTSSe)的方法。可在所述溶剂中混合前体以形成所述溶液。在一些实例中,可使用金属卤化物盐作为前体。可将所述溶液涂覆到衬底上并退火以获得所述半导体膜。在一些实例中,所述元素‘I’和‘IV’的所述来源可含有处于+2价氧化态的所述元素,而所述半导体膜可含有处于+1价氧化态的所述元素‘I’和处于+4价氧化态的所述元素‘IV’。实例可用于提供I2‑(II,IV)‑IV‑VI4膜。
搜索关键词: 形成 包括 sub ii iv vi 半导体 在内 方法 以及 电子 装置
【主权项】:
一种形成半导体膜的方法,所述方法包含:将第一元素的来源、第二元素的来源、第三元素的来源和第四元素的来源在液体溶剂中合并以形成溶液,其中所述第一元素选自铜和银,其中所述第二元素选自锌和镉,其中所述第三元素选自锡、锗和硅,其中所述第四元素选自硒、硫和碲,其中所述合并包含使至少一种包括所述第二或第三元素的金属卤化物盐在所述液体溶剂中解离,且其中所述液体溶剂是具有足以使所述至少一种金属卤化物盐解离的极性的极性非质子溶剂;用所述溶液涂覆衬底的至少一部分;和使所述溶液退火以形成所述半导体膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华盛顿大学商业中心,未经华盛顿大学商业中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280015103.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top