[发明专利]通过在不同频率和功率水平分析复反射反向散射来检测加载UHFRFID标签的材料的性质有效
| 申请号： | 201280013843.4 | 申请日： | 2012-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN103430193B | 公开（公告）日： | 2017-06-09 |
| 发明（设计）人： | I·J·福斯特 | 申请（专利权）人： | 艾利丹尼森公司 |
| 主分类号： | G06K19/077 | 分类号： | G06K19/077 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于检测接近UHF标签的材料性质的RFID装置。RFID装置包括微芯片、可操作地连接于微芯片的天线和可操作地连接于微芯片和天线的阻抗变换部分。改变RFID装置至少一个组件的电特性在阅读器装置处导致复反射信号，其代表接近RFID装置的材料的检测状态。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 不同 频率 功率 水平 分析 反射 反向 散射 检测 加载 uhf rfid 标签 材料 性质 | ||
【主权项】：
RFID装置，包括：微芯片；可操作地连接于所述微芯片的天线，所述天线具有线性部分和阻抗变换部分，所述阻抗变换部分可操作地连接于所述微芯片和所述天线，其中所述阻抗变换部分包括导体材料环，所述导体材料环具有一对连接点，用以通过电磁场连接所述微芯片；其中，改变所述RFID装置的至少一个组件的阻抗在阅读器装置处导致复反射信号，其代表接近所述RFID装置的被检测的材料的检测状态。
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