[实用新型]抗干扰镀层厚度测量仪有效
| 申请号： | 201220549900.8 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN202903142U | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 陈显东;陈生贩;江裕捺;陈生镇;陈发杰 | 申请（专利权）人： | 上海宏昊企业发展有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 何新平 |
| 地址： | 201409 上海市奉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测量技术领域，具体涉及一种镀层厚度测量技术。抗干扰镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在设备支架上的光检测装置，光检测装置连接一微型处理器系统，光检测装置设有一光源，光源采用红外LED灯；光检测装置设有一光敏元件，光敏元件采用红外光敏二极管；设备支架设有一条状开口，红外LED灯与红外光敏二极管分别位于条状开口两侧，呈对射关系。将需要检测的镀有镀层的镀膜薄膜穿过条状开口，打开光检测装置，通过检测投射光线的强度参数。光检测装置将所检测到的数据传送给微型处理器系统，经过数据分析最终获得镀层的厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 抗干扰 镀层 厚度 测量仪 | ||
【主权项】：
抗干扰镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在所述设备支架上的光检测装置，所述光检测装置连接一微型处理器系统，其特征在于，所述光检测装置设有一光源，所述光源采用红外LED灯；所述光检测装置设有一光敏元件，所述光敏元件采用红外光敏二极管；所述设备支架设有一条状开口，所述红外LED灯与所述红外光敏二极管分别位于所述条状开口两侧，呈对射关系。
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