[实用新型]抗干扰镀层厚度测量仪有效
申请号: | 201220549900.8 | 申请日: | 2012-10-25 |
公开(公告)号: | CN202903142U | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 陈显东;陈生贩;江裕捺;陈生镇;陈发杰 | 申请(专利权)人: | 上海宏昊企业发展有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 何新平 |
地址: | 201409 上海市奉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抗干扰 镀层 厚度 测量仪 | ||
1.抗干扰镀层厚度测量仪,包括一设备支架,至少一固定在所述设备支架上的光检测装置,所述光检测装置连接一微型处理器系统,其特征在于,
所述光检测装置设有一光源,所述光源采用红外LED灯;
所述光检测装置设有一光敏元件,所述光敏元件采用红外光敏二极管;
所述设备支架设有一条状开口,所述红外LED灯与所述红外光敏二极管分别位于所述条状开口两侧,呈对射关系。
2.根据权利要求1所述的抗干扰镀层厚度测量仪,其特征在于,所述红外LED灯采用发光波段为860nm~960nm的红外LED灯。
3.根据权利要求1所述的抗干扰镀层厚度测量仪,其特征在于,所述红外光敏二极管采用敏感波段为860nm~960nm的红外光敏二极管。
4.根据权利要求1、2或3所述的抗干扰镀层厚度测量仪,其特征在于,所述光检测装置设有一振荡信号发射模块,所述振荡信号发射模块连接所述红外LED灯;所述光检测装置设有一与所述振荡信号发射模块频率对应的选频模块,所述选频模块连接所述红外光敏二极管。
5.根据权利要求4所述的抗干扰镀层厚度测量仪,其特征在于,所述设备支架上设有至少5个所述光检测装置,至少5个所述光检测装置沿所述条状开口排列。
6.根据权利要求4所述的抗干扰镀层厚度测量仪,其特征在于,两个所述光检测装置之间的距离小于10cm。
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