[实用新型]一种纳米颗粒测量装置有效
| 申请号： | 201220525172.7 | 申请日： | 2012-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN202793993U | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 彭志平;彭旸 | 申请（专利权）人： | 南京浪博科教仪器研究所 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种纳米颗粒测量装置，包括水平设置的样品池，所述样品池的上方设有CCD显微镜，所述CCD显微镜和计算机相连，其中，所述样品池下方设有半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈10°～80°的倾斜角度设置。本实用新型提供的纳米颗粒测量装置，在CCD显微镜上增加半导体激光器，所述半导体激光器和样品池呈一定的倾斜角度设置，使得样品池内纳米颗粒在激光光束照射下产生动态散射光光点，依据爱因斯坦的布朗运动方程，从而测量几十纳米至几个纳米的颗粒粒径及其粒径分布，既能保证测量精度和稳定性，又能大大降低生产成本，且结构简单，易于推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种纳米颗粒测量装置，包括水平设置的样品池(5)，所述样品池(5)的上方设有CCD显微镜(6)，所述CCD显微镜(6)和计算机(7)相连，其特征在于，所述样品池(5)下方设有半导体激光器(1)，所述半导体激光器(1)的光轴和样品池(5)呈10°～80°的倾斜角度设置。
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