[实用新型]摄像头模组的芯片表面质量测试机有效
| 申请号： | 201220301572.X | 申请日： | 2012-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN202974877U | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 赵盾 | 申请（专利权）人： | 赵盾 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市萧*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 摄像头模组的芯片表面质量测试机应用于摄像头模组封装过程中的测试领域。摄像头模组的芯片表面质量检测目前都是拿显微镜从上往下观察，容易引起空气中的灰尘掉落到芯片表面，造成二次污染。本实用新型的主要特征为1.载物台在显微镜的上面，2.被测摄像头模组的芯片表面朝下，放置在载物台的下表面，3.显微镜从下面向上面观察摄像头模组。本实用新型较好的避免了因为测试引入的二次污染。 | ||
| 搜索关键词： | 摄像头 模组 芯片 表面 质量 测试 | ||
【主权项】：
一种用于摄像头模组的芯片表面质量的测试机，包括显微镜和载物台等，该测试机具有的特征为：（1）载物台在显微镜的上面；（2）被测摄像头模组的芯片表面朝下，放置在载物台的下表面；（3）显微镜从下面向上面观察摄像头模组。
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