[实用新型]电子元件电性能综合测试机有效

专利信息
申请号: 201220277306.8 申请日: 2012-06-13
公开(公告)号: CN203287444U 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: 曾航;章朝阳 申请(专利权)人: 苏州慧捷自动化科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01N21/88;G01B11/02;G01B11/06;B07C5/34;B07C5/344
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 王玉国;陈忠辉
地址: 215123 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种电子元件电性能综合测试机,其特征在于:包括电控机构,电控机构连接控制主机机构,主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构,上料机构固定在机架上,上料机构的出料口处布置有测试机构,测试机构的出料口布置有下料分档机构。本实用新型通过在测试盘上安装两组探针和多个摄像机来实现多产品多方位的检测,多个摄像机能够准确的测量产品的外观使其有效的提高精确性。
搜索关键词: 电子元件 性能 综合测试
【主权项】:
电子元件电性能综合测试机,其特征在于:包括电控机构,所述电控机构连接控制主机机构,所述主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构,所述上料机构固定在机架上,所述上料机构的出料口处布置有测试机构,所述测试机构的出料口布置有下料分档机构;所述上料机构包括分度盘和上料装置,所述分度盘通过安装转轴转动,所述分度盘上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴,所述分度盘的上方设置有水平相对的下压气缸,所述下压气缸通过顶柱与分度盘上的吸嘴竖直相对且相互配合,所述分度盘上的吸嘴的正下方设置有上料装置;所述测试机构包括测试盘,所述测试盘通过安装转轴转动,其中第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机沿测试盘的圆周外围固定,第三摄像机固定在测试盘中心处,所述测试盘的270°处为出料口;所述下料分档机构包括分档盘和分档盒,所述分档盒设有十个且都沿分档盘的圆周外围依次布置,所述分档盘的中心处设置夹取装置,所述夹取装置与分档盒相配合。2.根据权利要求1所述的电子元件电性能综合测试机,其特征在于:所述上料装置包括料匣、步进电机以及顶杆,所述步进电机通过丝杆与顶杆形成传动副,所述顶杆正对料匣的底部与料匣相配合。3.根据权利要求1所述的电子元件电性能综合测试机,其特征在于:所述分档盘的圆周外围设置有废料盒。4.根据权利要求1所述的电子元件电性能综合测试机,其特征在于:所述分档盒处设置有储料匣。5.根据权利要求3所述的电子元件电性能综合测试机,其特征在于:所述废料盒处设置有储料匣。
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