[实用新型]一种测量土壤表面粗糙度的系统有效
| 申请号： | 201220181448.4 | 申请日： | 2012-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN202814364U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 李宗南;陈仲新;王利民;任建强 | 申请（专利权）人： | 中国农业科学院农业资源与农业区划研究所 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营;张焕亮 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种测量土壤表面粗糙度的系统，包括：支架；水平基准面板，用于覆盖所述样方土；结构光投射-图像采集部件，位于支架上，用于采集样方土上的目标采样点以及水平基准面板上与目标采样点相应点的坐标参数信息，并将上述坐标参数信息传输到中央处理装置；中央处理装置，用于根据样方土上的目标采样点以及水平基准面板上与目标采样点相应点的坐标参数信息，对样方土上的目标采样点的坐标参数进行校正，并根据校正后的样方土上的目标采样点的坐标参数，获得所测量的土壤表面粗糙度。通过结构光对被测物体进行三维测量，获取被测物体表面离散各点在参考坐标系的位置，进而可以实现简单、快速并且精确地计算出土壤表面的粗糙度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 土壤 表面 粗糙 系统 | ||
【主权项】：
一种测量土壤表面粗糙度的系统，其特征在于，包括：支架；水平基准面板，用于覆盖样方土；结构光投射‑图像采集部件，位于所述支架上，用于采集所述样方土上的目标采样点以及所述水平基准面板上与所述目标采样点相应点的坐标参数信息，并传输到中央处理装置；中央处理装置，与结构光投射‑图像采集部件电连接，用于根据所述样方土上的目标采样点以及所述水平基准面板上与所述目标采样点相应点的坐标参数信息，对样方土上的目标采样点的坐标参数进行校正，并根据校正后的样方土上的目标采样点的坐标参数，获得所测量的土壤表面粗糙度。
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