[实用新型]PON系统测试用光功率计用集成光组件有效
| 申请号： | 201220142425.2 | 申请日： | 2012-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN202503512U | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 赵新民;段磊 | 申请（专利权）人： | 重庆欧胜德光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08;H04Q11/00 |
| 代理公司： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 | 代理人： | 张先芸 |
| 地址： | 400060*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器的其中两个端口为标准光纤连接头，另外两个端口制作金属钢针分别与三个PIN进行耦合固定；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550nm波长的两个光探测器。本实用新型的关键技术在于采用分光比2∶8的2×2光纤耦合器的分光特性，实现器件在线测试上下行光信号的功能；同时，设计了1490nm和1550nm下行光信号的波分复用耦合结构，使组件结构紧凑，各项技术指标达到用户使用要求。它具有产品性能可靠，组件体积小，生产成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | pon 系统 测试 用光 功率 集成 组件 | ||
【主权项】：
PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；其特征在于，所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器设有两个标准光纤连接头端口，以及分别连接同轴耦合结构和波分复用耦合结构的输出端口；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550 nm波长的两个光探测器。
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