[实用新型]PON系统测试用光功率计用集成光组件

说明书

技术领域

本实用新型涉及无源光纤网络技术领域，具体涉及一种PON系统测试用光功率计用集成光组件。

背景技术

目前FTTx网络建设正成为国内外接入网建设的热点。PON（Passive Optical Network：无源光纤网络）接入网技术是业内公认的FTTx的最佳解决方案，这种技术可以使多个用户共享单根光纤，从而使光分配网（ODN）中不需要使用任何有源器件，即不需要通过光电光（OEO）转换，这种单点到多点的构架大大降低了网络安装、管理和维护成本。

参见图2，PON系统中上行信号采用1310nm波长，下行信号采用1490nm和1550nm波长，分别以相反方向沿同一光纤传输。上行信号接入采用突发模式，线路上的光信号即为突发光信号，正确检测出突发光信号就是需要检测出发射机激活发光期间的平均光功率，而普通的标准光功率计只能正确测试连续的光信号，这样如果使用传统的光功率计（记录一个采样周期内的平均光功率）将不能得到正确的测试结果，从而给网络的安装维护带来困难。

实用新型内容

　　针对现有技术存在的上述不足，本实用新型的目的在于提供一种能满足PON系统功率测试要求用于光功率计检测的专用集成器件，以提高产品性能，降低生产成本，提高生产效率，减小组件体积。

本实用新型采用的技术方案如下：一种PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；其特征在于，所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器设有两个标准光纤连接头端口，以及分别连接同轴耦合结构和波分复用耦合结构的输出端口；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550 nm波长的两个光探测器。

PON系统中上行信号采用1310 nm波长，下行信号采用1490和1550 nm波长，分别以相反方向沿同一根光纤传输。本实用新型工作原理是通过2×2光耦合器，将下行（第一端口）和上行（第二端口）信号进行分光到第三端口和第四端口，第三端口采用波分复用（WDM）耦合结构对下行信号进行波分处理，使1490和1550 nm波长分别耦合不同的光探测器中，第四端口采用同轴耦合结构直接耦合1310nm光探测器。组件满足以下几点要求：（1）同时探测1310、1490和1550nm 三种波长的光发射；（2）实现光功率的在线测试；（3）能探测1310nm突发信号光功率。

如图3所示：功率计采用两头结构，用双向耦合器对测试线路进行20%分光，对上行信号（1310nm）分光后直接接入探测器进行功率探测。对于下行信号（1490nm和1550nm）分光后再用高隔离度的WDM将波长分开后再分别接入探测器进行功率探测。这样就能同时探测三个波长的光功率，并且测量期间线路保持正常通信。

相比现有技术，本实用新型具有如下优点：

本实用新型的关键技术在于采用分光比2∶8的2×2光纤耦合器的分光特性，实现器件在线测试上下行光信号的功能；同时，设计了1490nm和1550nm下行光信号的波分复用耦合结构，使组件结构紧凑，各项技术指标达到用户使用要求。具有产品性能可靠，组件体积小，生产成本低等优点。

附图说明

图1为本实用新型器件结构示意图；

图2为PON系统测试用光功率计的光路结构原理图；

图3 为本实用新型光纤耦合器加工制作示意图；

图4 为本实用新型波分复用腔体结构示意图；

图5 为本实用新型同轴管体结构示意图；

图6 为本实用新型波分复用耦合结构示意图；

图7为本实用新型同轴耦合结构图；

图8 为本实用新型组件工艺操作平台示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对实用新型作进一步详细说明。

如图1所示，一种PON系统测试用光功率计用集成光组件，包括光耦合器、波分复用器件；所述光耦合器为分光比2∶8的2×2光纤耦合器，所述光耦合器的光纤接头和金属钢针分别与三个PIN进行耦合固定；同轴耦合结构直接耦合上行光信号1310nm光探测器，波分复用器件分别耦合下行光信号1490和1550 nm波长的两个光探测器。