[发明专利]星载电子系统在轨可靠性的预测系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210585817.0 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103049668A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 尤明懿;张小林;吴献忠 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 王宇杨;胡时冶
地址: 314033 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种星载电子系统在轨可靠性的预测系统及方法,所述预测系统包括:地面测控采集装置、遥测量识别单元、遥测量分类单元、第一可靠性预测单元、第二可靠性预测单元、第三可靠性预测单元和预测结果集成单元。利用本发明的预测系统和预测方法可以有效预报系统的关键电路的衰退情况并给出可靠性评估结果,从而为实现星载电子设备主动式主备切换,预测星载电子系统剩余工作寿命提供了可靠性数据基础。
搜索关键词: 电子 系统 可靠性 预测 方法
【主权项】:
一种星载电子系统在轨可靠性的预测系统,所述预测系统包括:地面测控采集装置,其用于采集所述星载电子系统中的各个模块的电路参数;遥测量识别单元,其根据所述地面测控采集装置提供的所述各个模块的电路参数,对所述各个模块中是否有遥测量和所包含的遥测量类型进行识别;遥测量分类单元,其用于根据所述遥测量识别单元识别出的结果对所述各个模块进行分类,将所述各个模块分为四种类型:其遥测量能够反映其健康状态的模块,其遥测量能够反映其工作温度的模块,其遥测量既不能反映其健康状态也不能反映其工作温度的模块,其中不包含遥测量的模块;第一可靠性预测单元,其用于基于随机衰退模型对遥测量能够反映其健康状态的模块的可靠性进行预测;第二可靠性预测单元,其用于基于国家军用标准GJB/Z299C‑2006《电子设备可靠性预计手册》的失效率预计模型对遥测量能够反映其工作温度的模块的可靠性进行预测;第三可靠性预测单元,其用于基于国家军用标准GJB/Z299C‑2006《电子设备可靠性预计手册》的失效率预计模型和根据模块的设计工作温度对遥测量既不能反映其健康状态也不能反映其工作温度的模块和不包含遥测量的模块进行可靠性预测;预测结果集成单元,其用于对来自所述第一可靠性预测单元、所述第二可靠性预测单元和所述第三可靠性预测单元的所述各个模块的可靠性预测的结果进行集成,得到所述星载电子系统的在轨可靠性。
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