[发明专利]一种开/短路测试系统及方法无效
| 申请号： | 201210578382.7 | 申请日： | 2012-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103063975A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 徐正元 | 申请（专利权）人： | 成都市中州半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。本发明还提供了一种开/短路测试方法。本发明通过提供一种开/短路测试系统及方法替代传统的继电器矩阵完成开/短路测试，大大节约了测试成本同时也保证了测试系统的稳定性和可维护性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 短路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管之间，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。
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