[发明专利]一种开/短路测试系统及方法

权利要求书

1.一种开/短路测试系统，包括测试模块及与所述测试模块相连的待测集成电路，其特征在于，所述测试模块包括分别与所述待测集成电路对应待测管脚相连的电压测量工具阵列、功能测试逻辑模块阵列、第一供电接口及第二供电接口，所述待测集成电路的每个待测管脚都有一个保护电路，所述保护电路由一个接电源的二极管和一个接地的二极管组成，所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管首尾相连，所述待测管脚置于所述接电源的二极管和所述接地的保护二极管之间，所述第一供电接口与所述接电源的二极管的阴极相连，所述第二供电接口与所述接地的二极管的阳极相连。

2.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述电压测量工具阵列中的电压测量工具的数量为N个，所述功能测试逻辑模块阵列中的功能测试逻辑模块的数量为N个，与所述待测管脚的数量相同，且N≥2。

3.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述功能测试逻辑模块包括限流电阻及与所述限流电阻相连的功能测试逻辑，所述限流电阻保护所述接电源的二极管的阳极及所述接地的二极管的阴极与功能测试逻辑不短路。

4.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口及所述第二供电接口为选择开关，当测试所述接电源的二极管时，所述第一供电接口及所述第二供电接口均接地，则当测试时，功能测试逻辑输出高电平，所述接电源的二极管导通，所述接地的二极管不导通。

5.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口及所述第二供电接口为选择开关，当测试所述接地的二极管时，所述第一供电接口及所述第二供电接口均接电源，则当测试时，功能测试逻辑输出低电平，所述接地的二极管导通，所述接电源的二极管不导通。

6.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口的电压范围大于与其相连的所述接电源的二极管的压降范围，所述第二供 电接口的电压范围大于与其相连的所述接地的二极管的压降范围，且所述第一供电接口和所述第二供电接口的电源电压相同。

7.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述第一供电接口和所述第二供电接口的电压可以根据待测集成电路的设计要求进行调整。

8.根据权利要求1所述的开/短路测试系统，其特征在于：所述接电源的二极管和所述接地的二极管的压降范围为0.2V～1.5V。

9.一种开/短路测试方法，具体步骤如下：

将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接地；

所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的二极管的阳极，使得所述接电源的二极管导通；

所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过；

将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接电源；

所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管的阴极，使得所述接地的二极管导通；

所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。

10.根据权利要求8所述的开/短路测试方法，其具体步骤还可以如下：

将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接电源；

所述功能测试逻辑模块输出零电压至所述接地的二极管的阴极，使得所述接地的二极管导通；

所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述第二供电接口的电源电压减去所述接地的二极管的压降值相同，是则进入下一步，否则测试不通过;

将所述第一供电接口和所述第二供电接口同时接地；

所述功能测试逻辑模块输出高电压至所述接电源的二极管的阳极，使得 所述接电源的二极管导通；

所述电压测量工具测量所述待测管脚的电压值是否和所述接电源的二极管的压降值相同，是则测试通过，否则测试不通过。