[发明专利]光学触控系统、触控检测方法及校正方法有效

专利信息
申请号: 201210575142.1 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103870063B 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 陈裕彦 申请(专利权)人: 纬创资通股份有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种光学触控系统、触控检测方法及校正方法。该光学触控系统包括一反射单元、至少一发光模块、至少一影像检测模块及一处理单元。反射单元配置于基准面旁。发光模块配置于基准面旁,且轮流提供强度彼此不同的一第一检测光及一第二检测光,第一检测光与第二检测光传递至反射单元。影像检测模块配置于基准面旁。影像检测模块产生对应于第一检测光的一第一讯号及对应于第二检测光的一第二讯号,其中当物体接近或触碰基准面时,物体遮断至少部分第一检测光与至少部分第二检测光。处理单元根据第一讯号与第二讯号判断物体的位置。此外,触控检测方法、校正方法及计算机程序产品亦被提供。
搜索关键词: 光学 系统 检测 方法 校正
【主权项】:
一种光学触控系统,用以判断一物体接近或触碰一基准面的动作,该光学触控系统包括:一反射单元,配置于该基准面旁;至少一发光模块,配置于该基准面旁,且轮流提供强度彼此不同的一第一检测光及一第二检测光,该第一检测光与该第二检测光经由该基准面前方传递至该反射单元;至少一影像检测模块,配置于该基准面旁,该反射单元将该第一检测光及该第二检测光反射,且使该第一检测光与该第二检测光经由该基准面前方传递至该影像检测模块,该影像检测模块产生对应于该第一检测光的一第一讯号及对应于该第二检测光的一第二讯号,其中当该物体接近或触碰该基准面时,该物体遮断至少部分该第一检测光与至少部分该第二检测光;以及一处理单元,根据该第一讯号与该第二讯号判断该物体相对于该基准面的位置,其中当物体远离该基准面时,该影像检测模块产生对应于该第一检测光的一第一背景讯号及对应于该第二检测光的一第二背景讯号,该处理单元计算该第一背景讯号与该第一讯号的差值,以得到一第一特征讯号,该处理单元计算该第二背景讯号与该第二讯号的差值,以得到一第二特征讯号,且该处理单元判断该第一特征讯号与该第二特征讯号是否符合一预设条件,若符合,该处理单元判断出该物体接近或触碰该基准面。
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