[发明专利]硬盘测试系统及方法在审
申请号: | 201210574281.2 | 申请日: | 2012-12-26 |
公开(公告)号: | CN103902415A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 林玉龙;张俊;董华 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种硬盘测试系统,该系统包括:获取模块,用于获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;生成模块,用于生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;中断模块,用于当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;控制模块,用于控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。本发明还提供一种硬盘测试方法。本发明方便测试人员找到问题硬盘的位置。 | ||
搜索关键词: | 硬盘 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种硬盘测试系统,运行于计算机中,其特征在于,该系统包括,获取模块,用于获取待测硬盘的数量,其中每个硬盘包括发光单元;生成模块,用于生成与所述硬盘数量相同的测试程序,其中,每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试;中断模块,用于当任意一个硬盘被测出有问题时,中断所有硬盘的测试;控制模块,用于控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。
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