[发明专利]硬盘测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试系统及方法，特别是关于一种硬盘测试系统及方法。

背景技术

现在的计算机设备，例如服务器，一般需要非常多的存储设备。一个服务器往往会带有几十甚至几百个硬盘。为保证服务器出厂时该硬盘的容量、转速等性能参数满足客户的要求，需要对硬盘进行测试。然而，在现有的测试方法中，测试软体在测试时发现其中一个硬盘不符合要求时，测试软件知道该硬盘有问题，但测试人员却没有办法找到问题硬盘具体是哪个，只能分区域去测试找该区域的硬盘有没有问题，找到有问题的硬盘区域再具体到每个硬盘进行测试，这样的方法非常浪费时间，效率低下，而且也经常造成大量的硬盘要进行插拔动作，增加了人为损坏的可能。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种硬盘测试系统，方便测试人员找到问题硬盘的位置。

此外，还有必要提供一种硬盘测试方法，方便测试人员找到问题硬盘的位置。

一种硬盘测试系统，运行于计算机中，该系统包括，获取模块，用于获取待测硬盘的数量，其中每个硬盘包括发光单元；生成模块，用于生成与所述硬盘数量相同的测试程序，其中，每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试；中断模块，用于当任意一个硬盘被测出有问题时，中断所有硬盘的测试；控制模块，用于控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。

一种硬盘测试方法，应用于计算机，该方法包括，获取步骤，获取待测硬盘的数量，其中每个硬盘包括发光单元；生成步骤，生成与所述硬盘数量相同的测试程序，其中，每个生成的测试程序对一个硬盘进行测试；中断步骤，当任意一个硬盘被测出有问题时，中断所有硬盘的测试；控制步骤，控制问题硬盘的发光单元与其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光。

相较于现有技术，所述硬盘测试系统及方法，当硬盘被测出有问题时，通过控制问题硬盘的发光单元和其他硬盘的发光单元交替发出闪烁灯光，使得用户可以通过发光单元的交替来找到问题硬盘的位置，提高了测试效率。

附图说明

图1是本发明硬盘测试系统较佳实施例的应用环境图。

图2是本发明硬盘测试系统的功能模块图。

图3是本发明硬盘测试方法较佳实施例的流程图。

主要元件符号说明

计算机100硬盘测试系统1处理器2硬盘3发光单元30获取模块10生成模块11判断模块12中断模块13控制模块14

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式