[发明专利]测定硅锰合金、硅铁合金元素的X射线荧光光谱仪分析法无效
| 申请号： | 201210564808.3 | 申请日： | 2012-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN103884730A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 温春禄;黄云华;赖臻成;伍玉根 | 申请（专利权）人： | 福建三钢闽光股份有限公司;福建省三钢（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28;G01N1/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 365000 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种测定硅锰合金、硅铁合金元素的X射线荧光光谱仪分析法，包括①铂黄坩埚内加入硅锰合金或硅铁合金样品及辅料；②分步氧化；③冷却；④加入脱膜剂熔融；⑤制片；⑥光谱仪检测，其特征在于：在步骤①前增设铂黄坩埚预处理前置步骤，该步骤为：称取4.0000g～6.0000g四硼酸锂于铂黄坩埚中，放入高频熔融炉于1000℃～1200℃融化后打底挂壁，转动铂黄坩埚使熔化的熔剂均匀平铺在坩埚壁和坩埚底上，而后取下铂黄坩埚冷却至室温。优点在于：试样氧化完全之前隔离了试样与铂黄坩埚的直接接触，解决了硅锰合金、硅铁合金使铂黄坩埚合金化的问题。分析结果准确，精密度高。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 合金 铁合金 元素 射线 荧光 光谱仪 分析 | ||
【主权项】：
测定硅锰合金元素的X射线荧光光谱仪分析法方案是：包括①铂黄坩埚内加入样品及辅料；②分步氧化；③冷却；④加入脱膜剂熔融；⑤制片；⑥光谱仪检测，其特征在于：在步骤①前增设铂黄坩埚预处理前置步骤，该步骤为：称取4.0000g～6.0000g四硼酸锂于铂黄坩埚中，放入高频熔融炉于1000℃～1200℃融化后打底挂壁，转动铂黄坩埚使熔化的熔剂均匀平铺在坩埚壁和坩埚底上，而后取下铂黄坩埚冷却至室温。
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