[发明专利]光耦合透镜检测系统及其检测方法无效

专利信息
申请号: 201210547168.5 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103868677A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 洪毅 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02B7/02;G02B7/182
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种光耦合透镜检测系统,其包括光耦合透镜及反射镜。光耦合透镜包括垂直的光入射面及光出射面、与光入射面及光出射面均相连且呈45度夹角的反射面、相互对应的第一会聚透镜及第二会聚透镜、第一定位柱、翻转90度后在光入射面上的投影的中心与第一定位柱的中心完全重合的第二定位柱、相互对应的第一对位柱及第二对位柱。第一定位柱、第一对位柱及第一会聚透镜位于光入射面。第二定位柱、第二对位柱及第二会聚透镜位于光出射面。反射镜的一端抵触于反射面与光出射面的交线上,另一端远离光出射面。反射镜与光出射面之间的夹角为45度,反射镜的镜面朝向光出射面。本发明还涉及一种光耦合透镜检测方法。
搜索关键词: 耦合 透镜 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
一种光耦合透镜检测系统,其包括:光耦合透镜,其包括光入射面、与该光入射面垂直的光出射面、与该光入射面及该光出射面均相连且呈45度夹角的反射面、至少一个第一会聚透镜、至少一个第二会聚透镜、第一定位柱、第二定位柱、两个第一对位柱及两个第二对位柱,该第一定位柱、该两个第一对位柱及该至少一个第一会聚透镜相互间隔地设置于该光入射面上,该第二定位柱、该两个第二对位柱及该至少一个第二会聚透镜相互间隔地设置于该光出射面上,该至少一个第一会聚透镜与该至少一个第二会聚透镜一一对应,该第二定位柱翻转90度后在该光入射面上的投影的中心与该第一定位柱的中心完全重合,该两个第一对位柱与该两个第二对位柱一一对应,各第一会聚透镜分别相对该两个第一对位柱的位置与对应的第二会聚透镜相对对应的第二对位柱的位置一致;及反射镜,其一端抵触于该反射面与该光出射面相交的交线上,另一端远离该光出射面,该反射镜与该光出射面之间的夹角为45度,且该反射镜的镜面朝向该光出射面。
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