[发明专利]一种变频器控制箱老化试验装置

摘要

本发明提供一种变频器控制箱老化试验装置，包括电压和电流老化模块是模拟变频器的电压传感器和电流传感器输出的交变电流信号波形，来老化电压和电流采集端口；光纤老化模块是模拟IGBT输出的光纤反馈信号和/或电机转速信号并采集控制IGBT动作的信号，对IGBT动作信号进行处理；判断波形是否与标准波形一致；温度老化模块是模拟温度采集端口采集到的温度升高，从而完成超温报警的老化过程；逻辑控制老化模块是模拟逻辑开关的动作信号的收发，判断动作是否执行。本发明的有益效果是：通过长时间的高温运行，对控制箱的各个部分以及电子元器件进行下线后的全方位老化试验，确保装到控制箱的质量；也不会对被老化控制箱造成破坏等优点。

主权项

一种变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：包括光纤老化模块、电压和电流老化模块、温度老化模块、逻辑控制老化模块、信号源；——所述电压和电流老化模块是模拟变频器的电压传感器和电流传感器输出的交变电流信号波形，来老化被老化控制箱的电压和电流采集端口；——所述光纤老化模块是模拟IGBT输出的光纤反馈信号和/或电机转速信号，并且采集被老化控制箱输出的控制IGBT动作的信号，对采集到的IGBT动作的信号进行处理和分析；判断波形是否与控制箱工作时的标准波形一致；——所述温度老化模块是模拟被老化控制箱的温度采集端口采集到的温度升高，从而完成超温报警的老化过程；——所述逻辑控制老化模块是模拟逻辑控制单元的回路，模拟被老化控制箱的逻辑开关的动作信号的发出和接收，判断动作是否执行；——所述信号源是三相高压信号源。