[发明专利]一种变频器控制箱老化试验装置

权利要求书

1.一种变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：包括光纤老化模块、电压和电流老化模块、温度老化模块、逻辑控制老化模块、信号源；

——所述电压和电流老化模块是模拟变频器的电压传感器和电流传感器输出的交变电流信号波形，来老化被老化控制箱的电压和电流采集端口；

——所述光纤老化模块是模拟IGBT输出的光纤反馈信号和/或电机转速信号，并且采集被老化控制箱输出的控制IGBT动作的信号，对采集到的IGBT动作的信号进行处理和分析；判断波形是否与控制箱工作时的标准波形一致；

——所述温度老化模块是模拟被老化控制箱的温度采集端口采集到的温度升高，从而完成超温报警的老化过程；

——所述逻辑控制老化模块是模拟逻辑控制单元的回路，模拟被老化控制箱的逻辑开关的动作信号的发出和接收，判断动作是否执行；

——所述信号源是三相高压信号源。

2.根据权利要求1所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：通过电压传感器采集信号源电压值，得到交变电流信号，并将交变电流信号传给被老化控制箱信号采集板上的电压和电流信号采集端口。

3.根据权利要求2所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述电压传感器与电压和电流信号采集端口之间串联可调电阻，通过调节可调电阻，来改变信号强度，模拟被老化控制箱不同阶段的电流值、过压值、以及过压、过流报警。

4.根据权利要求1所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述光纤老化模块包括微处理器、调理电路、老化光纤接收端和老化光纤发射端；微处理器发出PWM波形，经调理电路调理成为老化光纤信号，将老化光纤信号输出到被老化控制箱的光纤接收端，用来模拟被老化控制箱的IGBT反馈信号；再由老化接收端接收被老化控制箱的发射端的IGBT动作信号，并将接收到的IGBT动作信号传输给微处理器进行处理和分析，判断被老化控制箱控制IGBT动作信号是否符合标准。

5.根据权利要求4所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述老化光纤接收端与被老化控制箱的光纤发射端连接，老化光纤发射端与被老化控制箱的光纤接收端连接。

6.根据权利要求1所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述温度老化模块串联在被老化控制箱的温度采集端口与GB端口之间，所述温度老化模块是可调电阻。

7.根据权利要求1所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述逻辑控制老化模块是在被老化控制箱的数字量输出端串联继电器，由于继电器得电，数字量输入端得到一个逻辑开关的动作信号；判断被老化控制箱的逻辑开关工作是否执行。

8.根据权利要求7所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述逻辑开关是接触器、断路器、风扇中的一种或几种。

9.根据权利要求1所述的变频器控制箱老化试验装置，其特征在于：所述信号源的输入端依次与三相变压器、断路器串联，得到三相高压电信号。