[发明专利]可实时观察监测z扫描光学非线性测量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201210540625.8 申请日: 2012-12-13
公开(公告)号: CN103033488A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 王睿;魏劲松 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01N21/17
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种可实时观察监测z扫描光学非线性测量装置和方法,主要包括光源调制监测部分,数据采集部分以及照明观察部分。装置中采用两个光源,既可以方便切换光源,采用信号发生器控制岀射激光的脉冲宽度,脉冲周期,功率可调;可以测量样品的透射开孔和透射闭孔数据,还可测量样品反射开孔数据;本发明不仅适用于透明材料的非线性吸收系数和非线性折射率,而且适用于半透明,不透明材料的非线性测量。装置中对于样品运动平台加入了显微物镜,照明光源以及CCD相机,可以实时观察样品表面形貌,避免由于样品形貌变化对测量数据的影响;同时加入示波器实时监测作用激光波形功率,提高材料非线性测量的精度和准确性。
搜索关键词: 实时 观察 监测 扫描 光学 非线性 测量 装置 方法
【主权项】:
一种可实时观察监测z扫描光学非线性测量装置,特征在于其构成包括输出激光波长λ1的第一激光器(1)和输出激光波长λ2的第二激光器(13),沿所述的第一激光器(1)的激光输出的主光路构成的主光轴依次是第一分光镜(2)、第一激光分光镜(3)、扩束镜(4)、第二分光镜(5)、第一物镜(6)、第一分光棱镜(7)、第二激光分光镜(8)、待测样品(9)、第二分光棱镜(10)、孔径光阑(11)、第一光电探测器(12),所述的第一激光分光镜(3)与主光轴成45°,所述的第二激光器(13)经过第三分光镜(14)入射到所述的第一激光分光镜(3);所述的第一信号发生器(25)与第一激光器(1)相连;所述的第二信号发生器(26)与第二激光器(13)相连;所述的第一分光镜(2)与主光轴成45°;在所述的第一分光镜(2)的反射光输出方向设置第五分光镜(20)、第一聚焦透镜(21)、第五光电探测器(22);所述的第五分光镜(20)与光轴成45°;在所述的第五分光镜(20)的反射光输出方向设置第二聚焦透镜(23)、第六光电探测器(24);所述的第三分光镜(14)与光轴成45°;在所述的第三分光镜(14)的反射光输出方向设置第四分光镜(15)、第三聚焦透镜(16)、第七光电探测器(17);所述的第四分光镜(15)与光轴成45°;在所述的第四分光镜(15)的反射光输出方向设置第四聚焦透镜(18)、第八光电探测器(19);所述的第二分光镜(5)与主光轴成45°;在所述的第二分光镜(5)的反射光输出方向设置第五聚焦透镜(37)、第四光电探测器(38);在所述的第一分光棱镜(7)的反射光输出方向设置第六聚焦透镜(27)、第三光电探测器(28);所述的第二激光分光镜(8)与主光轴成45°;在所述的第二激光分光镜(8)的反射光输出方向设置第二物镜(33)、第六分光镜(32)、滤光片(34)、CCD相机(35);所述的第六分光镜(32)与光轴成45°;在所述的第六分光镜(32)的反射光输出方向设置照明光源(31);所述的第一分光棱镜(7)、第六聚焦透镜(27)、第三光电探测器(28)、第二激光分光镜(8)、待测样品(9)、照明光源(31)、第六分光镜(32)、第二物镜(33)、滤光片(34)、CCD相机(35)置于样品电机运动平台(36)上;在所述的第二分光棱镜(10)的反射光输出方向设置第七聚焦透镜(29)、第二光电探测器(30);所述的第一光电探测器(12),第二光电探测器(30),第三光电探测器(28),第四光电探测器(38),CCD相机(35)、样品电机运动平台(36)、示波器(39)与计算机(40)相连;所述的第五光电探测器(22),第六光电探测器(24), 第七光电探测器(17),第八光电探测器(19),与示波器(39)相连。
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