[发明专利]检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置有效
申请号: | 201210539745.6 | 申请日: | 2012-12-13 |
公开(公告)号: | CN103033343A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 张铁轶;余道平;刘超强;张祥 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法及装置,其中该方法包括:检测彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化,并生成灰阶变化波形;获取彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量;比较获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值;当获取的灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于预设的异常波峰的数量阈值时,判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移,由此解决了制作彩色滤光片的过程中监控亚像素是否偏移的技术问题,从而可加强对彩色滤光片的品质检测。 | ||
搜索关键词: | 检测 彩色 滤光 中亚 像素 偏移 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种检测彩色滤光片中亚像素偏移的方法,其特征在于,所述方法包括:检测所述彩色滤光片中的彩膜区域的灰阶变化,并生成灰阶变化波形;获取所述彩膜区域的灰阶变化波形中的异常波峰的数量;比较获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量和预设的异常波峰的数量阈值;当获取的所述灰阶变化波形中的异常波峰的数量大于所述预设的异常波峰的数量阈值时,判定被检测的彩色滤光片的彩膜区域中出现亚像素偏移。
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