[发明专利]一种验证系统及其验证方法有效
申请号: | 201210531940.4 | 申请日: | 2012-12-11 |
公开(公告)号: | CN103036738A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 杨兵;王志飞;张晓敏;江显舟;郑成根;刘志恒;管云峰;孙军;戴杨;于宗光 | 申请(专利权)人: | 上海高清数字科技产业有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;H04L29/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200125 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种验证系统,包括:寄存器生成模块,根据被测模块的寄存器信息生成随机寄存器数据;TS测试流生成模块,根据前述的随机寄存器数据生成随机TS测试流;被测模块,接收并处理随机的寄存器数据和TS测试流,并将得到的输出数据发送到检验器;检验器,接收并处理随机寄存器数据和TS测试流,得到被测模块的检验标准值,通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态以实现对被测模块的验证;本发明在无“采样源”的条件下生成TS测试流,可以大幅节省TS测试流的准备时间;通过对各个数据配置随机数值,在短时间内,生成多种格式的TS流;使得TS流接收器的功能覆盖率迅速提高,同时伴随多次各种格式TS流的相互转换,使得对TS流接收器稳定性测试得以实现。 | ||
搜索关键词: | 一种 验证 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种验证系统, 主要应用于芯片(IC)设计中的功能验证,其特征在于,其包括:寄存器生成模块,根据被测模块的寄存器信息生成随机寄存器数据;TS测试流生成模块,根据前述的随机寄存器数据生成随机TS测试流;被测模块,接收并处理随机的寄存器数据和TS测试流,并将得到的输出数据发送到检验器;检验器,接收并处理随机寄存器数据和TS测试流,得到被测模块的检验标准值,通过检验被测模块的输出和检验标准值是否相同,判断被测模块的工作状态以实现对被测模块的验证。
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