[发明专利]利用二端口网络分析仪提取四端口变压器模型参数的方法无效
申请号: | 201210521426.2 | 申请日: | 2012-12-07 |
公开(公告)号: | CN103852662A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 张健;黄景丰 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R27/26 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 刘昌荣 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种利用二端口网络分析仪提取四端口变压器模型参数的方法,该方法将嵌套组成四端口变压器的两个电感分解成初级线圈和次级线圈,用二端口网络分析仪测试初级线圈两个端口之间的散射参数,及次级线圈两个端口之间的散射参数;再将四端口变压器设计成转置或非转置变压器,用二端口网络分析仪测试变压器未接地的两个端口之间的散射参数;根据测试数据提取初级线圈和次级线圈的相关模型参数,及初级线圈与次级线圈间的互感和耦合电容。本发明通过将四端口变压器拆解成多个二端口测试结构,实现了用价格相对低廉的二端口网络分析仪测试四端口变压器模型参数的目的,从而节省了测试的成本。 | ||
搜索关键词: | 利用 端口 网络分析 提取 变压器 模型 参数 方法 | ||
【主权项】:
利用二端口网络分析仪提取四端口变压器模型参数的方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将嵌套组成四端口变压器的两个电感分解成初级线圈和次级线圈,初级线圈和次级线圈彼此独立,用二端口网络分析仪测试初级线圈两个端口之间的散射参数,以及次级线圈两个端口之间的散射参数;2)将四端口变压器设计成转置变压器或非转置变压器,用二端口网络分析仪测试变压器未接地的两个端口之间的散射参数;3)由步骤1)得到的测试数据提取初级线圈和次级线圈的相关模型参数;由步骤2)得到的测试数据提取初级线圈与次级线圈间的互感和耦合电容。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210521426.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:甲磺酸伊马替尼的晶型及其制备方法
- 下一篇:全自动温控节能双层窗