[发明专利]一种获取光源光谱的方法

摘要

本发明公开了一种获取光源光谱的方法，包括：通过利用多种已知波长的单色光源测量集成光波导电光调制器在不同波长下的半波电压，建立半波电压与波长的单调函数关系；把未知光源与同一集成光波导电光调制器光连接之后，测量集成光波导电光调制器随调制电压线性变化的干涉图谱，再对测得的干涉图谱进行傅里叶变换处理，得到入射光功率随半波电压的分布曲线，再利用已经建立的半波电压与波长的单调函数关系得出入射光功率随波长的分布曲线，由此获得未知光源的光谱。该方法无需确定集成光波导电光调制器的各种参数，操作简便、精确度高、抗干扰能力强，不仅能确定光源光谱，还可用于测量物质的可见-红外吸收光谱和荧光光谱。

主权项

一种获取光源光谱的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1：将已知波长的单色光光源和光探测器分别与集成光波导电光调制器光输入端和光输出端进行光连接，将信号控制与处理模块分别与集成光波导电光调制器的调制电极和光探测器输出端电连接；步骤2：通过信号控制与处理模块给集成光波导电光调制器施加调制电压，利用多种已知波长的单色光光源测量集成光波导电光调制器在不同波长下的半波电压V_π，建立半波电压V_π与波长λ的单调函数关系V_π＝f(λ)；步骤3：用未知光源取代已知波长的单色光光源，利用信号控制与处理模块给集成光波导电光调制器施加随时间t线性变化的调制电压U＝S_p·t+U₀，并利用该信号控制与处理模块同步同频记录调制电压和光探测器输出信号，得到集成光波导电光调制器输出光强随调制电压变化的干涉图谱，其中，S_p为调制电压变化速率，U₀为初始调制电压；步骤4：对测得的光探测器输出信号采样序列进行离散傅立叶变换，并根据公式：V_π＝(S_p·N)/(2·m·f_s)，得到半波电压‑光功率谱图；其中，N为光探测器输出信号采样序列长度，m为采样序列中的某个采样点数，f_s为采样频率；步骤5：利用已建立的半波电压与波长的单调函数关系V_π＝f(λ)，将半波电压‑光功率谱图转化为波长‑光功率谱图，获取未知光源的光谱。