[发明专利]一种监测航天器深层介质充电电位的装置有效

专利信息
申请号: 201210490489.6 申请日: 2012-11-27
公开(公告)号: CN102928652A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 田立成;郭宁;张天平;高军;李娟;石红 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 杨志兵;付雷杰
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种监测航天器深层介质充电电位的装置,属于抗辐射加固领域。所述装置包括:电子过滤器、介质样品、感应电极、音叉、信号处理电路、驱动电路、压电晶体、底座、样品室内壁和样品室外壳。所述装置可以搭载到航天器上用于实时监测航天器内部介质带电电位,且测量过程不会对被测电位产生影响,测量结果准确可靠。
搜索关键词: 一种 监测 航天器 深层 介质 充电 电位 装置
【主权项】:
一种监测航天器深层介质充电电位的装置,其特征在于:所述装置包括:电子过滤器(1‑1)、介质样品(1‑2)、感应电极(1‑3)、音叉(1‑4)、信号处理电路(1‑5)、驱动电路(1‑6)、压电晶体(1‑7)、底座(1‑8)、样品室内壁(1‑9)和样品室外壳(1‑10);其中,样品室外壳(1‑10)为中空的圆柱形结构,底端和顶端有外沿;电子过滤器(1‑1)为顶端封闭、底端开口的中空圆柱形结构,顶端有外沿,顶端中心设有圆形凹槽,保证引起内带电的电子通过;介质样品(1‑2)上表面镀金属膜且接地,下表面也镀金属膜,且下表面金属膜上刻蚀出一个环形空隙,称为刻蚀环(2‑2),使金属膜分割为两部分,一部分为中心圆形部分,称为环内金属膜(2‑3),另一部分为外围环形部分,称为外围金属膜(2‑1),环内金属膜(2‑3)、刻蚀环(2‑2)和外围金属膜(2‑1)构成同心圆,外围金属膜(2‑1)接地;样品室外壳(1‑10)置于底座(1‑8)上方,其底端外沿与底座(1‑8)固连;中空的圆柱形样品室内壁(1‑9)套装在样品室外壳(1‑10)内,样品室内壁(1‑9)的外径与样品室外壳(1‑10)内径相配合,样品室内壁(1‑9)底端与底座(1‑8)接触;介质样品(1‑2)置于样品室内壁(1‑9)上方,其直径与样品室外壳(1‑10)内径相配合;电子过滤器(1‑1)套装在样品室外壳(1‑10)内,且底端与介质样品(1‑2)接触,顶端外沿与样品室外壳(1‑10)顶端外沿固连;音叉(1‑4)置于介质样品(1‑2)、样品室内壁(1‑9)、底座(1‑8)构成的腔室内,与样品室内壁(1‑9)固连,感应电极(1‑3)置于音叉(1‑4)上方和介质样品(1‑2)下方,音叉(1‑4)底部尖齿上安装一个压电晶体(1‑7),压电晶体(1‑7)外接驱动电路(1‑6),驱动音叉(1‑4)振动;感应电极(1‑3)外接信号处理电路(1‑5)。
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