[发明专利]一种基于变焦透镜的光谱测量方法及微型光谱仪有效
申请号: | 201210475068.6 | 申请日: | 2012-11-21 |
公开(公告)号: | CN103017901A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 杨涛;陈宇超;韦纬;李兴鳌;黄维 | 申请(专利权)人: | 南京邮电大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 杨楠 |
地址: | 210003 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于变焦透镜的光谱测量方法。本发明方法包括以下步骤:在可调整为n个不同焦距的变焦透镜后固定位置设置一光探测器;将光探测器的可测量频率范围等分为n个频段;事先利用光探测器测得频率为 |
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搜索关键词: | 一种 基于 变焦 透镜 光谱 测量方法 微型 光谱仪 | ||
【主权项】:
1.一种基于变焦透镜的光谱测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤A、在可调整为n个不同焦距的变焦透镜后固定位置设置一光探测器;步骤B、将所述光探测器的可测量频率范围等分为n个频段,各频段的中心频率分别为f1, f2,…fn,每个频段的频宽为Δf;事先利用所述光探测器测得频率为
的单色光通过焦距取第j个值时的变焦透镜的探测系数Cij,
;步骤C、利用所述探测器测量待测入射光通过焦距取第j个值时的变焦透镜后的功率
,
;步骤D、通过求解以下方程得到待测入射光中频率为
的光功率
,
;然后对
进行线性拟合并经光谱辐射定标得到入射光的光谱:
。
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