[发明专利]一种玻璃基板粘合线的测量方法无效
| 申请号： | 201210457761.0 | 申请日： | 2012-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN102997852A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 吕军顺;李华;马云静 | 申请（专利权）人： | 彩虹(张家港)平板显示有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 汪人和 |
| 地址： | 215600 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种玻璃基板粘合线测量方法，包括如下步骤：1）将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2）用光源照射玻璃基板样品表面；3）调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，调整显微镜的目镜到玻璃基板断面的距离和焦距，使玻璃基板样品断面清晰可见；4）调整光源发出的光线与玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到玻璃基板样品的粘合线；5）调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。本发明提供的玻璃基板粘合线测量方法，测量简单、精确度高，能够很精确地测量出玻璃基板粘合线两侧玻璃板厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 玻璃 粘合 测量方法 | ||
【主权项】：
一种玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，包括如下步骤：1）将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2）用光源照射所述玻璃基板样品表面；3）调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后进一步调节焦距，使所述玻璃基板样品断面清晰可见；4）调整光源发出的光线与所述玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到所述玻璃基板样品的粘合线；5）调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与所述玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。
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