[发明专利]一种玻璃基板粘合线的测量方法

权利要求书

1.一种玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

1）将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；

2）用光源照射所述玻璃基板样品表面；

3）调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后进一步调节焦距，使所述玻璃基板样品断面清晰可见；

4）调整光源发出的光线与所述玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到所述玻璃基板样品的粘合线；

5）调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与所述玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。

2.根据权利要求1所述的玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，具有断面的玻璃基板样品的获得步骤为：

1）在退火炉口将出炉的玻璃基板横向切断，得到一整块玻璃基板；

2）在得到的一整块玻璃基板上从左到右选取几个测量点；

3）在每个测量点处用切割工具划线后掰断，取得一组具有断面的玻璃基板样品。

3.根据权利要求2所述的玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，对取得的一组玻璃基板样品逐一进行测量，得到一组玻璃基板粘合线数据。

4.根据权利要求1所述的玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，用胶带、粘合剂或夹持装置将所述玻璃基板样品固定在载物台上，并使所述玻璃基板样品断面垂直朝上。