[发明专利]一种在编程时对芯片进行测试的方法及测试系统有效
| 申请号： | 201210438601.1 | 申请日： | 2012-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN103809102B | 公开（公告）日： | 2017-08-22 |
| 发明（设计）人： | 刘双;唐新颖 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种在编程时对芯片进行测试的方法，包括将芯片与烧写器相连；将第一写入值保存至芯片，第一写入值用于控制芯片的零点输出；对芯片进行第一检测以获得芯片的第一输出数据；向芯片施加磁场并将第二写入值保存至芯片，第二写入值用于控制芯片的额定输出；对芯片进行第二检测以获得芯片的第二输出数据；撤除磁场并根据第一和第二输出数据生成第一和第二检测值以便根据第一和第二检测值判断对芯片的编程是否合格。根据本发明实施例的方法，在芯片编程过程中对芯片进行及时有效的测试，提高芯片的生产良率，能够有效地降低测试成本，提高芯片的生产效率。本发明还提出了一种芯片编程及测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 编程 芯片 进行 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种在编程时对芯片进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：将芯片与烧写器相连；将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出；对所述芯片进行第一检测，以获得所述芯片的第一输出数据；向所述芯片施加磁场，并将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出；对所述芯片进行第二检测，以获得所述芯片的第二输出数据；撤除所述磁场；以及根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值，并根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于比亚迪股份有限公司，未经比亚迪股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210438601.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
