[发明专利]非易失性存储器在审

专利信息
申请号: 201210437634.4 申请日: 2012-11-06
公开(公告)号: CN103811655A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 曾俊元;李岱萤;蔡宗霖 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 赵根喜;冯志云
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种非易失性存储器,其包括单极性电阻式存储单元以及二极管单元,其中二极管单元与单极性电阻式存储单元电性连接。二极管单元包括第一电极、第二电极、氧化钴层、以及氧化铟锌层。第一电极与第二电极相对配置。氧化钴层配置于第一电极与第二电极之间。氧化铟锌层配置于第一电极与氧化钴层之间。本发明不仅可具有良好的整流效果,更可承受重复100次以上的高电阻与低电阻之间的转态操作,并使得高电阻与低电阻之间可维持高的读取鉴别度。
搜索关键词: 非易失性存储器
【主权项】:
一种非易失性存储器,包括:单极性电阻式存储单元;以及二极管单元,与所述单极性电阻式存储单元电性连接,所述二极管单元包括:第一电极;第二电极,与所述第一电极相对配置;氧化钴层,配置于所述第一电极与所述第二电极之间;以及氧化铟锌层,配置于所述第一电极与所述氧化钴层之间。
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